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HS810 TOFD检测仪
HS810 TOFD检测仪
HS810是一款基于超声衍射时差法研发的TOFD检测仪器
产品概述
HS810是一款基于超声衍射时差法研发的TOFD检测仪器，是目前资格取证的主用仪器（特种行业TOFDⅡ级人员资质培训考核样板机），可支持3对TOFD探伤通道，可配置3对TOFD探头（可扩展），支持对厚度为12mm-200mm工件的进行一次性全覆盖扫查。对于平板或对接焊缝中部缺陷检出率很高，容易检出方向性不好的缺陷，可以识别向表面延伸的缺陷。
上海楹点检测设备有限公司提供仪器维修，产品带检，技术培训，产品配件选型，仪器说明书.由于公司经营品牌产品太多，为了节约您的时间，价格货期请直接联系我们客服获取产品信息。供应以下品牌：汕超、贝克休斯（原美国GE/德国KK）、奥林巴斯（Olympus NDT）、友联，中科，信固CYGNUS、美国磁通（Magnaflux）、DAKOTA等。保护膜探头：B1S B1S-EN B1S-O B2S B2S-EN B2S-O B2S-O-EN B4S B4S-EN B4S-O B4S-O-EN B5S MB2S MB2S-EN MB2S-O MB4S MB4S-EN MB4S-O MB5S MB5S-O SEB2S SEB4S MSEB2S MSEB4S；双晶探头：SEB1 SEB1-EN SEB2 SEB2-EN SEB2-0° SEB2-EN-0°SEB4 SEB4-EN SEB4-0° SEB4-EN-0°MSEB2 MSEB2-EN MSEB4 MSEB4-EN MSEB4-0°MSEB5 SEB2KF5 SEB4KF8 SEB4KF8-EN SEB5KF3 SEB10KF3 SEB10KF3-EN
功能特点
● 集A扫、B扫成像、TOFD成像、导波成像等多能一体 | ● 直通波去除：近表面缺陷专用处理工具，提高近表缺陷分析精度 |
● 独有合成孔径聚焦(SAFT) 技术 | ● 横竖调整：满足不同现场操作习惯 |
● 内置现场检测工艺模型，自动生成检测工艺 | ● SAFT：国际公认有效提高缺陷测量精度的功能 |
● 便携扫查器及自动扫查装置代替手工扫查,满足各种工件检测要求 | ● 仪器软件：同时具备SAFT（合成孔径聚焦）功能，差分直通波拉直功能 |
● A型扫描：射频显示提高仪器对材料中缺陷模式的评价能力 | ● 离线分析软件：具备SAFT（合成孔径聚焦）处理功能，具备图像处理前和处理后的同屏对比显示功能，具备能直接将TOFD图像转换成BMP位图的功能 |
● B扫成像：实时显示缺陷截面形状 | ● 离线图象分析：恢复和回放扫查时记录的A扫波形；缺陷尺寸和轮廓厚度/幅度数据统计分析；记录转换到ASCII/ MSWord/MS Excel格式报告 |
● TOFD扫成像：实时显示缺陷的灰度扫查图，直观显示缺陷并对缺陷质量进行评价 | |
● 多路TOFD检测和PE检测全面覆盖200mm厚度以内的分区扫查,可扩展至400mm厚度 |
技术参数
发射参数
脉冲类型 | 负方波脉冲 | 脉冲宽度 | 40n000ns连续可调(8ns步进) | 可同时连接探头 | 10 个 |
脉冲前沿 | <10 ns | 阻抗匹配 | 25Ω、500Ω |
接收参数
采样频率/位数 | 125MHZ/12bits | 等效输入噪声 | <60nV/√Hz | 垂直线性误差 | ≤3% |
采样深度 | 512/1024可调 | 扫描范围 | 零界面入射-14000mm钢纵波 | 水平线性误差 | ≤0.3% |
重复频率 | 100Hz-800Hz可调 | 声速范围 | （300-20000）m/s | ||
衰减器精度 | <1dB/12dB | 动态范围 | ≥30dB |
综合性能
分辨力 | >30dB | 检波方式 | 全检波、正检波、负检波、射频 | 成像模式 | A扫、 B扫、C扫 |
灵敏度余量 | >52dB(Φ2×200mm） | 波形平均 | 1-8可调 | 直线扫查长度 | （0-40000）mm自动滚屏 |
仪器参数
整机尺寸 | 248×180×80（ mm） | 人机交互 | 键盘，飞梭 | 工作温度 | (-10-40)°C（参考值） |
整机重量 | 2.4kg（含电池） | 电源、电池 | 直流（DC12V/2A） 电池11.1V/6600mAH | 相对湿度 | （20-95）%RH |
显示屏尺寸 | 6.5" | 固态硬盘 | 8 GB | 出厂检验 | 提供欧标 |
显示屏分辨率 | 640×480 | 接口 | LAN， USB2.0， VGA |
应用
◆ 板材焊缝检测、管道焊缝检测、压力容器等特种设备检测
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