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HS PA30-X相控阵检测仪
HS PA30-X相控阵检测仪
产品概述
功能特点
→多能一体，兼容PA,TFM，TOFD检测及A超检测功能。
→检测界面数据可视化，速度更。
→仪器检测简单，相控阵晶片自动校准。
→A、C、L、3D多视图角度显示检测结果，判断缺陷更简单。
→超声波设备便携、节能，依靠便携式的小容量电源就能长时待机工作，利于现场高空作业。
技术参数
参数分类 | 参数选项 | 相控阵通道 | 常规通道 |
接收/发射 | 64/128（PR） | 4通道TOFD(2对一发一收) | |
激励脉冲电压 | 50V-100V | 200V-350V | |
| PA/UT配置 | 脉冲形式 | 负方波 | 负方波 |
发射脉冲宽度 | 30ns-500ns/2.5ns | 30ns-500ns可调 | |
脉冲发生器 | 激励脉冲电压 | 50V-100V | 200V-350V |
发射脉冲重复频率 | 10KHz可调 | 1KHz可调 | |
发射延迟 | 0-20μs/2.5ns | 0-655μs/10ns | |
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接收延迟 | 0~50μs/10ns | / | |
增益范围 | 80dB/0.1dB（模拟）+40 dB/6dB（数字） | 110dB/0.1dB | |
系统带宽 | 0.5MHz-20MHz | 0.5MHz-20MHz | |
数据采集 | 采样率 | 100MHz/10bit | 200MHz/bit |
最大A扫深度 | 实时点数 | 2048 | |
聚焦模式 | 常规/动态/全范围 | / | |
聚焦类型 | 深度/声程/投影聚焦 | / | |
检波 | 射频、正检、负检、全检 | 射频、正检、负检、全检 | |
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扫描与显示 | 扫描类型 | 扇扫/线扫/复合扫 | / |
扫描类型 | 扇扫/线扫/复合扫 | / | |
显示模式 | A/B/C/L/S/3D | A/B/C | |
可编程TCG | 点的数量 | 32个 | / |
最大增益量 | 40dB,步距0.1dB | / | |
最大增益斜率 | 40dB/μs | / | |
数据存储 | 256GB | ||
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显示器 | 尺寸 | 12.1'' | |
分辨率 | 1280×800 | ||
触摸屏类型 | 电容式触摸屏 | ||
I/O接口 | USB | USB3.0 | |
以太网 | 1000Mb/s（USB转换器） | ||
视频输出 | HDMI | ||
编码器 | ODU-7PIN双路编码器 | ||
语言 | 中文/英文 | ||
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电源 | 直流供电电压 | DC24V | |
电池 | 100wh | ||
连续工作时间 | ≥4小时 | ||
整机尺寸 | 390×245×110（mm） | ||
整机重量 | / | ||
工作温度 | (-10-45)℃（参考值） | ||
存放温度 | (-10-45)℃（参考值） | ||
应用
适用于碳钢、不锈钢、合金钢、铜、铝等各种金属材质及非金属材质的板材、焊缝、铸件、锻件、管材等不同加工工艺及结构形态的内部多种缺陷(裂纹、夹杂、疏松、气孔等)的和准确检测、定位、评估和诊断。
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