CXT2661手持四探针方块电阻测试仪

CXT2661手持四探针方块电阻测试仪

性能特点

最高电阻精度：0.1 %；电阻最小分辨：1mΩ

最高方阻精度：5%；电阻最小分辨：1mΩ

被测件厚度可预设,电阻率测试无需查表

零底数设计，微弱电阻测试无需清零

多种探头可选,应对各种特性材料的方阻电阻率测试

3档比较功能: 合格/超上限/超下限

电阻/方阻/电阻率可切换显示

符合GBT 1551-2009及GBT 1552-1995

6000mAh大容量电池,持久续航

适用于测量半导体、导电薄膜、金属/纳米涂层、太阳能材料、陶瓷等，也可直接测量电阻器

产品介绍:

CXT2661型四探针方块电阻测试仪，同时也是电阻率测试仪、电导率测试仪.本仪器是一款低功耗手持式仪器，适用于片状或块状半导体材料的径向和轴向电阻率及扩散层的薄层电阻率测试、太阳能等材料的测试，配置不同的测试探头，可以测量柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层等材料的电阻率/方块电阻，也可使用电阻测试夹具直接测量电阻器电阻、开关接触电阻等。

适用范围:

仪器可根据客户需要配置不同的测试探头，测量半导体材料、柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、太阳能材料、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层等材料的电阻率/方阻，也可使用电阻测试夹具直接测量电阻器电阻、开关接触电阻等。 本仪器采用可充电电池供电，适合手持式变动场合操作使用！

仪器适用于半导体材料厂、器件厂、科研单位、高等院校等研究生产单位对导体、半导体材料、类半导体材料、器件的导电性能的测试，满足对材料(棒材、片材等)和导电薄膜方块电阻测量的需要。

产品描述:

电阻测试范围:1mΩ-100KΩ;方阻测试范围: 1mΩ/□-100KΩ/□; 电阻率测试范围取决于电阻测试范围及被测件尺寸;手持大容量电池方便携带