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SUPOR 2T​超声成像检测仪​

SUPOR 2T超声成像检测仪

SUPOR 2T/4T/6T

支持6个TOFD探伤通道,可配置6对TOFD探头,实现对厚度为12mm~400mm工件的一次性全覆盖扫查

可选择配置多种TOFD探头,频率范围包括2M、2.5M、3.5M、4M、5M、7.5M、10M、15M等多种规格

双轴编码器连接,可同时接收两维信息

每个通道均兼容通用UT,可实现TOFD+UT组合检测

完善的成像向导功能

独立的负方波发射,脉冲电压可达500V,步进大于等于1V,脉冲宽度:10~600ns

SUPOR-2T/4T/6T技术参数

系统

A/D 采样频率

200MHz

探头接口

LEMO 00 接口12

脉冲

脉冲发生类型

负方波

重复频率

100Hz2000Hz

脉冲电压

<500V,步进>1V

脉冲宽度

10ns600ns

阻尼

增益

0dB110dB,步进:0.5/2/6/12

频带宽度

0.5MHz20MHz

检波方式

正向、负向、全检波、射频波

滤波器

16 档可选

抑制

0%80%

扫描

扫描类型

A/TOFD

触发方式

编码器

扫查长度

<2m

通道数

2/4/6

校准

探测范围

0mm1000mm

材料声速

500m/s15000m/s

显示延迟

0mm1000 mm

探头零点

0μs19.99μs

自动校准

声速、探头零点、角度校准

闸门

测试点选择

峰值/前沿

测量

双闸门:可测量回波幅度、声程、水平距离、垂直距离、闸门间距离

闸门起点

全范围

闸门宽度

全范围

闸门高度

10

测量

曲线功能

DAC

辅助功能

型回波冻结、自动校正、角度测量、峰值记忆、参数输出、U盘转存

AWS D1.1/D1.5

报警信号

声音报警

数据处理

直通波/底波拉直、滤除、对比度调节、增益调节、缺陷长度、高度测量

显示测量值

个位置

数据分析

直通波/底面反射波拉直、直通波/底面反射波滤除、图像对比度调整、

图像增益调整、缺陷高度和长度测量

探伤指标

探伤灵敏度余量

65dB2.5Z20N 探头)

时基线性

0.5%

垂直线性

3%

衰减器精度

12dB±1dB

动态范围

36dB

远区分辨力

26dB

电噪声电平

10%

可配扫查架

型号

TSB-1-P05TSB-2-P05TSC-4-P05TSC-6-P05UHTS-X02

编码器精度

0.5mm

移动方式

手动磁吸

通道数

1/2/4/6

 


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