紫外辐照计定制313nm、340nm

紫外辐照计定制313nm、340nm

紫外辐照计 UV313/UV340 单通道

产品概述

      该款紫外辐照计采用SMT贴片技术，选用低功耗数字芯片，仪器外壳为流线型设计，探测器经过严格的光谱及角度特性校正，性能稳定，适用性强。适用于光化学、高分子材料老化、紫外光源、以及大规模集成电路光刻等领域的紫外辐照度测量工作。

 

 

产品特点

   光谱及角度特性经严格校正
   数字液晶显示，带背光
   手动/自动量程切换
   数字输出接口（USB,冗余供电）
   低电量提醒
   自动延时关机
   有数字保持

   轻触按键操作，蜂鸣提示

项目 参数 备注
波长范围λ1，峰值波长λp （315～370）nm，λP＝340nm 用户二选一
波长范围λ2，峰值波长λp （290～340）nm，λP＝313nm
辐照度测量范围 (0.1～200 000) μW/cm2  
相对示值误差 ±8％  
余弦特性(方向性响应)误差 10%  
线性误差 ±1.5%  
换档误差 ±1%  
短期不稳定性 ±1%（开机30min后）  
疲劳误差 3%  
零值误差（满量程FS） ±1%  
响应时间 1秒  
使用环境 温度(0~40)℃；湿度＜85％RH  
尺寸和重量 160mm×78mm×43mm；0.2kg  
电源 6F22型9V积层电池一只，亦可使用数据线连接USB接口、5V电源适配器供电（不可充电）  
整机功耗 0.1VA  

照度计 ST-85

照度计ST-85(探伤)

屏幕亮度计  ST-86LA

屏幕亮度计  ST-86LA