LCR测试仪 IM3523

LCR测试仪 IM3523

测量频率40Hz - 200kHz的LCR测试仪

应用于生产线和自动化测试领域的理想选择

● 基本精度±0.05％，测量范围广(DC,40Hz～200kHz，5mV～5V，10μA～50mA)

● 在比如C-D和ESR这样的混合测量条件下，可以以往产品10倍的速度不间断测试。

● 内置比较器和BIN功能

● 2ms的快速测试时间

本产品不标配测量探头和测试夹具。请结合应用单选择和购买合适的测量探头和测试夹具。所有探头均带有一个1.5D-2V的同轴电缆。RS-232C接口连接：交互连接可使用交叉电缆。您可使用RS-232C电缆9637，不需要硬件控制器。

基本参数

测量模式 LCR,连续测试

测量参数 Z,Y,θ,Rs(ESR),Rp,DCR(DC电阻),X,G,B,Cs,Cp,Ls,Lp,D(tanδ),Q

测量量程 100mΩ～100MΩ,10个量程(所有参数根据Z定义)

可显示量程 Z,Y,Rs,Rp,Rdc,X,G,B,Ls,Lp,Cs,Cp:

± (0.000000 [单位]* ～9.99999G [单位])(*为分辩率时的显示位数）

 只有 Z和Y显示真有效值

θ: ± (0.000°～999.999°), D: ± (0.00000～9.99999)

Q: ± (0.00～99999.9), Δ%: ± (0.0000%～999.999%)

基本精度 Z : ±0.05%rdg. θ: ±0.03°

测量频率 40Hz ～200kHz (1mHz ～10Hz)

测量信号电平 正常模式

V模式，CV模式: 5mV～5Vrms,1mVrms

CC模式: 10μA～50mArms,10μArms

输出阻抗 正常模式：100Ω

显示 单色LCD

测量时间 2ms(1kHz,FAST,代表值)

功能 比较器，分类测量(BIN功能)，面板读取/保存、存储功能

接口 EXT I/O(处理器)，USB通信(高速)

选件：RS-232C,GP-IB,LAN任选一

电源 100～240V AC，50/60Hz，大50VA

尺寸及重量 260mm W×88mm H×203mm D, 2.4kg

附件 电源线×1，使用说明书×1，CD-R(包括PC指令和样本软件)×1

PC通讯

GP-IB接口Z3000

GP-IB接口Z3000

外部控制用

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RS-232接口Z3001

RS-232接口Z3001

*RS-232C连接线可用于连锁的交叉线。RS232C连接线9637(9针-9针，交叉型)

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LAN接口Z3002

LAN接口Z3002

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GP-IB连接线9151-02

GP-IB连接线9151-02

2m长

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探头和测试治具

4端子探头L2000

4端子探头L2000

DC~8MHz，1m长

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4端子开尔文夹9140-10

4端子开尔文夹9140-10

DC~200kH，50 Ω，1 m长

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镊形探头L2001

镊形探头L2001

线长73cm，DC～8MHz，50Ω，电间隔：0.3～6mm(IM9901:JIS尺

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测试治具9261-10

测试治具9261-10

线长1m，DC~5MHz，特性阻抗50Ω，可测端口直径：0.3~1.5mm

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测试治具9262

测试治具9262

DC～8 MHz, 直接连接型

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SMD测试治具9263

SMD测试治具9263

直接连接型, DC～5 MHz 测试尺寸: 1mm～10.0mm

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SMD测试治具9677

SMD测试治具9677

用于侧面有电的SMD DC~120MHz，测试样品 尺寸：3.5mm±0.5mm

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SMD测试治具9699

SMD测试治具9699

用于底部有电的SMD DC~120MHz，测试样品 尺寸：宽1.0~4.0mm，高1.5

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