阻抗分析仪IM7581

阻抗分析仪IM7581

测量频率100kHz-300MHz阻抗分析仪

测量频率100kHz~300MHz 测量时间：快0.5ms 基本精度±0.72%rdg. 主机大小仅机架一半 丰富的接触检查功能

● 测量频率100kHz~300MHz

● 测量时间：快0.5ms

● 基本精度±0.72%rdg.

● 测量方式：RF I-V法

● 紧凑主机仅机架一半大小、测试头仅手掌大小

● 丰富的接触检查功能（DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定）

● 使用分析功能在扫描测量频率、测量信号电平的同时进行测量

主机不带测试治具。需要使用阻抗分析仪IM7580A的测试治具。

阻抗分析仪IM7580s：等效电路分析功能

阻抗分析仪IM7580s：等效电路分析功能

能够以测量结果为基础推测5种等效电路模式的常数。 而且，可以通过模拟功能，使用推测结果或者任意的常数来显示频率特性的理想值。 此外，使用比较器功能，还能够确定测量结果是否在判定区域内。

阻抗分析仪IM7580系列：使用SMD治具IM9201进行LCR测量

阻抗分析仪IM7580系列：使用SMD治具IM9201进行LCR测量

IM7580系列5种机型的测量频率覆盖了1MHz〜3GHz。

和用于6种尺寸SMD的测试治具IM9201组合使用，能够简单准确的测量样品。

阻抗分析仪IM7580系列：区域判定功能

阻抗分析仪IM7580系列：区域判定功能

分析模式的比较器功能中，可以确定测量值是否进入了任意设置的判定区域内。 “区域判定功能”是设置上限值和下限值的范围，并以IN/NG来显示判定结果。

基本参数

测量模式 LCR（LCR测量），分析（扫频测量），连续测量

测量参数 Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q

精度保证范围 100 mΩ~5 kΩ

显围 Z: 0.00m~9.99999 GΩ / Rs, Rp, X: ± (0.00 m~9.99999 GΩ)

Ls, Lp: ± (0.00000 n~9.99999 GH) / Q: ± (0.00~9999.99)

θ: ± (0.000°~999.999°), Cs, Cp: ± (0.00000 p~9.99999 GF)

D: ± (0.00000~9.99999), Y: (0.000 n~9.99999 GS)

G, B: ± (0.000 n~9.99999 GS), Δ%: ± (0.000 %~999.999 %)

基本精度 Z: ±0.72 % rdg. θ: ±0.41°

测量频率 100 kHz~300 MHz (10 Hz~10 kHz步进)

测量信号电平 功率 (dbm)模式: -40.0 dbm~ +7.0 dbm

电压 (V)模式: 4 mV~1001 mVrms

电流 ( I )模式: 0.09 mA~20.02mArms

输出阻抗 50 Ω (10 MHz时)

显示 彩色TFT8.4英寸、触屏

测量时间 快0.5ms（FAST、模拟测量时间、代表值）

功能 接触检查、比较器、BIN判定（分类功能）、面板读取·保存、存储功能、等效电路分析、相关补偿

接口 EXT I/O (处理器), USB通讯, U盘, LAN

RS-232C (选件), GP-IB (选件)

电源 AC 100~240 V, 50/60 Hz, 70 VA max

体积和重量 主机: 215W × 200H × 268D mm, 6.5 kg

测试头: 61W × 55H × 24D mm, 175 g

附件 电源线 ×1, 测试头 ×1, 连接线 ×1, 使用说明书 ×1, CD-R (通讯使用说明书) ×1