TO-EE声波测厚仪TO 100-0.01EE

TO-EE声波测厚仪TO 100-0.01EE

TO-EE 声波测厚仪产品简介 基于回波-回波原理的声波材料厚度测量设备。配备功能，可在不破坏涂层的情况下测量基材真实厚度，适用于金属、塑料、陶瓷、复合材料、环氧树脂、玻璃等多种材料。

产品名称：TO-EE 声波测厚仪

产品型号：TO 100-0.01EE

TO-EE 声波测厚仪产品简介

基于回波-回波原理的声波材料厚度测量设备。配备功能，可在不破坏涂层的情况下测量基材真实厚度，适用于金属、塑料、陶瓷、复合材料、环氧树脂、玻璃等多种材料。

TO-EE 声波测厚仪产品特点

双测量原理：

脉冲-回波模式： 测量范围高达 600 mm。

回波-回波模式： 关键特性 - 测量范围高达 100 mm。可测量材料的实际厚度，不受基底金属表面涂层影响（例如测量带涂层管道的壁厚，无需去除涂层）。测量结果已自动补偿涂层厚度影响并直接输出。

材料适用性广： 金属、塑料、陶瓷、复合材料、环氧树脂、玻璃等。

模式： 分辨率可在 0.1 mm 和 0.01 mm 之间切换。

显示屏： TFT 彩色显示屏 (320×240)，亮度可调，适应各种光照条件。

大容量内部存储器： 可存储多达 100 个数据集，每个数据集多 100 个立测量值。

节能设计： 使用 2 节 AA 电池供电，运行时间至少 30 小时。可调节自动关机时间（睡眠模式）和显示屏关闭时间（待机模式）。

数据接口： 标配 USB 数据输出接口，便于将设备内存数据下载至 PC。

三重校准模式：

自动零点调整

单点调整（在材料厚度处）

双点精密调整（在两个材料厚度处）

三种测量模式：

标准测量： 单次测量。

扫描模式： 连续测量并显示当前值 (ACTUAL)、测量序列的小值 (MIN) 和大值 (MAX)。

差值模式 (DIFF)： 计算当前测量值 (ACTUAL) 与手动设定的标称厚度之间的差值。

限值报警功能： 可设定上限和下限。出限值时触发声音和视觉信号。

菜单语言： 德语 (DE)、英语 (EN)、法语 (FR)、西班牙语 (ES)、意大利语 (IT)。

日期/时间功能： 可调整日期和时间。测量值可带时间戳存储。

标配：

标准测量探头，型号 SAUTER ATU-US12

操作说明书

电池

外部测量探头（ø 10 mm）

声波耦合剂

接口线缆，型号 SAUTER FL-A01（用于软件连接）

坚固手提箱： 便于携带和存放。

TO-EE 声波测厚仪产品配置

主机

外部测量探头 (ø 10 mm, 5 MHz) × 1

声波耦合剂 × 1

坚固手提箱 × 1

电池 (2×1.5 V AA)

接口线缆 SAUTER FL-A01 × 1

TO-EE 声波测厚仪技术参数