5P10FG-J测厚探头5P10FG
双晶纵波探头,配套超声波测厚仪,用于材料厚度值的测量。铝合金外壳、不锈钢内套、有机玻璃延迟块,连接到探头线的两个接口为 C5插座。
功能特点:
双晶纵波探头,配套超声波测厚仪,用于材料厚度值的测量。铝合金外壳、不锈钢内套、有机玻璃延迟块,连接到探头线的两个接口为 C5插座。
规格参数:
频率 | 型号 | 接触面直径 | 测量范围 | 配套测厚仪 | 插座 |
5 | 5P10FG-J | 14 | 0.75~500 | CTS-400型 | 双C5插座 |
5P10FG | 1~300 | ||||
15P10T | 13.4 | 1.2~200 | CTS-300型 | 直接连到测厚仪 |