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Equotip 550 Leeb便携式硬度检测
Equotip 550 Leeb便携式硬度检测
Equotip 550 是便携式硬度检测中功能最齐全的一体化解决方案。 里氏硬度原理基于动态（回弹）法，最适用于重型、大型或已安装部件的现场检测。
结合 Equotip Portable Rockwell 探头，Equotip 550 可使用传统的洛氏硬度静态检测法。 这将能够在现场自动将 Leeb 关联至 Portable Rockwell 的实际压痕硬度值。
新一代 Equotip 触摸屏装置提供由行业专家精心设计的界面，提高了检测效率和改善用户体验。 改进的软件可提供互动向导、自动验证进程、个性化选项和自定义报告功能。 此外，该仪器可兼容后续开发产品。
全彩显示屏使您能够执行最高质量的测量和对已测得数据进行分析。特殊设计的外壳适于恶劣的现场使用环境。
迄今为止，Proceq 的 Equotip 已经成为全球广泛认可的测量技术和行业标准。 Equotip 装置完全满足众多行业对无损硬度检测的要求。
Equotip Leeb
根据需要自动转换至所有通用的硬度单位（HV、HB、HRC、HRB、HRA、HS、Rm）
自动更正冲击方向确保高准确度 ± 4 HL（硬度为 800 HL 时，准确度为 0.5%）
测量范围广泛，可利用各种冲击装置和支撑环来满足绝大多数的硬度检测要求。
每个冲击装置均可使用硬度范围广泛和精确的硬度测试块，，用于定期验证。
Equotip 550 Touchscreen Unit
模块化概念： 利用各种型号的探头和配件灵活配置各种行业应用
组合法： 在现场自动将 Leeb 关联至 Portable Rockwell 的实际压痕硬度值
引导向导： 预定义工作流以增强进程可靠性和提高测量精确度
自动验证： 根据 ISO 16859 和 ASTM A956 逐步验证
互动指南： 通过屏幕通知为您的应用获取最相关的设置
转换曲线： 直接在仪器上创建、编辑和验证转换曲线
自定义报告： 模块化报告处理器允许自定义测量报告
自动选项： 将 NDT 自动操作集成至质量管理系统和自动检测环境
外壳经过特殊设计，可用于严苛的现场环境 (IP 54)，包括背带、集成支架和遮阳盖
高分辨率彩色显示屏
电池使用时长 > 8h
8 GB 闪存
双核处理器，支持各种通信接口和外围接口： 探头连接器、USB 主机、USB 装置和以太网
通过直接兼容后续开发产品，实现未来保障投资
里氏回弹硬度检测主要用于金属测量，还可用于复合材料、橡胶和岩石检测
最合适用于材料挑选、验收和生产环节检测
最合适用于重型和大型部件安装前后的现场检测
方便用于难进入或空间有限的金属硬度检测场地
Proceq 提供一些附件，例如一个测量夹或几个支撑脚，适合在各种测试件结构上进行手动硬度测量
标准
ASTM A956 / E140 / A370
ISO EN 16859
DIN 50156
GB/T 17394
JB/T 9378
准则
ASME CRTD-91
DGZfP Guideline MC 1
VDI / VDE Guideline 2616 Paper 1
Nordtest Technical Reports 99.12, 99.13, 99.36
仪器: | |
显示屏 | 7” 彩色显示屏 800 x 480 像素 |
内存 | 内置 8 GB 闪存 |
区域设置 | 公制和英制单位，支持多种语言和时区 |
电池 | 锂聚合物，3.6 V、14.0 Ah |
电池使用时长 | > 8h（标准操作模式下） |
电源输入 | 12 V +/-25 % / 1.5 A |
重量（显示装置） | 大约 1525 g（含电池） |
尺寸 | 250 x 162 x 62 mm |
最高海拔 | 2500 m 海拔高度 |
湿度 | < 95?%RH，非冷凝 |
操作温度 | 0°C 至 30°C（32 至 86°F） |
环境 | 适合室内与室外使用 |
IP 等级 | IP 54 |
污染等级 | 2 |
安装类别 | 2 |
Equotip Leeb 冲击装置: | |
测量范围 | 1-999 HL |
测量精度 | ± 4 HL（800 HL 时为 0.5 %） |
分辨率 | 1 HL；1 HV；1 HB；0.1 HRA；0.1 HRB； |
冲击方向 | 自动补偿（DL 探头除外） |
冲击能量 | D、DC、E、S 探头为 11.5 Nmm DL 探头为 11.1 Nmm C 探头为 3.0 Nmm G 探头为 90.0 Nmm |
冲击体质量 | D、DC、E、S 探头为 5.45 克（0.2 盎司） DL 探头为 7.25 克（0.26 盎司） C 探头为 3.10 克（0.11 盎司） G 探头为 20.0 克（0.71 盎司） |
球压头 | C、D、DC 探头为碳化钨，直径 3.0 毫米（0.12 英寸） DL 探头为碳化钨，直径 2.78 毫米 G 探头为碳化钨，直径 5.0 毫米（0.2 英寸） S 探头为陶瓷，直径 3.0 毫米（0.12 英寸） E 探头为多晶金刚石，直径 |
操作温度 | –10?C 至 50?C（14 至 122°F） |
保修
电子部件的保修期统一为 2 年
可选择最多3年时间的有偿续保
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