KD LEPTOSKOP2042涂层测厚仪,镀层,漆膜测厚仪

LEPTOSKOP 2042涂层测厚仪

涂层测厚仪LEPTOSKOP 2042具有精准的测量技术和简单的操作方法，是万能的涂层测厚仪。通过解锁代码，可以使仪器在现场迅速的升级。上海楹点检测设备有限公司提供：仪器维修，产品计量，技术培训，产品说明书,产品配件等。；服务范围： 船舶及船用产品的超声探伤-UT；磁粉探伤-MT；渗透检测(PT)、射线探伤-RT、涡流探伤-ET等产品。

上海楹点提供探伤仪(奥林巴斯/汕超/美国GE/达高特)配件：直探头，斜探头，连接线，探头线，保护膜，试块，耦合剂，双晶探头，表面波探头，小径管探头，小角度探头，水浸探头，非金属探头，可拆式探头，可变角度探头，窄脉冲探头、测厚探头

可定制带系统的涂层测厚

涂层测厚仪LEPTOSKOP 2042 利用磁感应法（DIN EN ISO 2178）测量铁磁基体上的非铁磁层的厚度并且利用涡流法（DIN EN ISO 2360）测量非铁磁材料上覆盖的非导电层厚度。

仪器将一种把测厚值显示为模拟指针的工具和近似WINDOWS一样的文件管理系统相结合，同时提供10种可供任意选择的语言，以满足客户的各种需求,是一种经济的产品，电池寿命长，可以连续工作100小时以上。仪器记录工作时间和测量数量，因此一些重要的参数可以被保存。

彩色的橡胶皮套也是在供货范围内，可以保护仪器在工业环境中意外滑落不受损害。

特点概述:

大图解屏幕 48 mm x 24 mm, 有背景灯

校准选项

出厂时已校准，立即可用

在未知涂层上校准

零校准

在无涂层的基体上一点和多点校准

在有涂层的基体上校准

校准数据可以别单独存储在独立的校准档案中，也可以随时调出

可选择的显示模式，以最佳形式去完成测量任务

输入和极限监视*

在Windows下有简单的存储读数档案管理

可用的电脑软件STATWIN 2002 和EasyExport

统计：

可统计评估999个读数

最小值、最大值、测量个数、标准偏差和极限监视

局部厚度和平局膜层厚度（DIN EN ISO 2808）

在线统计，所有统计值概括

LEPTOSKOP 2042 有3种配置级别：

基本型 – 证明质量的基本特征                              

高级型 - 附加统计评估

专业型 - 统计评估和数据存储

如果针对新的测量要求，而需要仪器增加新的功能，可以在任何时候把仪器升级为高级型和/或专业型。升级只需在现场输入解锁代码，“统计”和/或“统计& 数据存储”，便可完成；而不需要把仪器反厂或重新购买新机器。

多样的探头：

多样的外部探头使LEPTOSKOP 2042在困难的条件下，更容易地测量复杂几何图形上的特殊涂层厚度。涂层厚度是20mm 也是可以的。根据需求，我们也可以订做特殊探头

商品参数

LEPTOSKOP 2042 涂层测厚仪技术参数：

显示技术

约48mm×24mm,背景灯光照明

测量方法

铁基测量：磁感应法（EN ISO 2178）

非铁基测量：涡流法（EN ISO2360）

测量范围

0-2000μm，根据使用的探头

校准

零校准

在无涂层的材料上用薄膜进行单点校准和多点校准

在涂层材料（铁基）上校准，如果没有无涂层材料

出厂校准

下载和保存客户的校准

测量误差（校准后）

涂层 < 100 μm: 1 % +/- 1 μm

涂层 > 100 μm: 1 to 3 % +/- 1 μm

涂层 > 1000 μm: 3 to 5 % +/- 10 μm

涂层 > 10000 μm：5 % +/- 100 μm

接口

通过电源线USB/RS232

测量单位

可选择um,mm, mil, inch

存储

140个文件，每个文件999个测量值

全部：9999个测量值，每个生成的文件约100个测量值

统计

最小值，最大值，算数平均值，数据号，标准偏离，极限值监测，局部涂层厚度和平均值厚度根据EN ISO2808

日期和时间

实时时钟，用电池

电源

2节AA电池，USB或独立的主机电源

操作时间

关背景灯照明约90小时（用碱性锰电池）

开背景灯照明约45小时（用碱性锰电池）

电池级别指示

4级电池级别指示，在电压前2-4小时，有声音报警，低电压时，自动关机

操作温度

0 °C to +45 °C

存放温度

-20 °C to +60 °C 无电池， 0 °C to +45 °C 有电池

防尘和湿度保护

防护等级IP 40（保护微粒侵入> 1 mm))

大小 (h x w x d)

81*121*32mm （H*W*D）

重量

约150 g（无电池，无橡胶套）

电子探头

带有内置微处理器和单独处理的灵敏探头

标准配置

基础套装

统计套装

数据套装

Fe基础套装       2042.901

NFe基础套装      2042.902

Fe/NFe基础套装  2042.903

基础套装包括：

LEPTOSKOP 2042

供货范围和附件：试块，校准薄膜

Fe套装：探头2442.100

NFe套装：探头2442.130

Fe/NFe套装：探头2442.410

Fe统计套装       2042.911

NFe统计套装      2042.912

Fe/NFe统计套装  2042.913

统计套装包括：

LEPTOSKOP 2042

供货范围和附件：PC电线（USB）,PC软件EasyExport，试块，校准薄膜

Fe套装：探头2442.100

NFe套装：探头2442.130

Fe/NFe套装：探头2442.410

Fe数据套装       2042.921

NFe数据套装      2042.922

Fe/NFe数据套装  2042.923

数据套装包括：

LEPTOSKOP 2042

供货范围和附件：统计和数据存储模块，

PC电线（USB）,PC软件STATWIN2002t，

试块，校准薄膜

Fe套装：探头2442.100

NFe套装：探头2442.130

Fe/NFe套装：探头2442.410